數(shù)字式四探針測試儀 是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。 

    儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。 
    主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關(guān)輸入；具有零位、滿度自校功能；測試功能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作完成，也可脫PC機由四探針儀器面板上獨立操作完成。測試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機數(shù)碼管直接顯示，也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打??！ 
     
    探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。配探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。 
數(shù)字式四探針測試儀     
    測試臺選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺，也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。 
      詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》點擊進入 
    儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點。 
    儀器于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。 
三、基本技術(shù)參數(shù) 
     
3.1  測量范圍 
     電  阻：1×10-4～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω 
    電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 
    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□ 
3.2  材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定) 
     直    徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限. 
    長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
    測量方位: 軸向、徑向均可 
3.3.  4-1/2 位數(shù)字電壓表： 
    (1)量程： 20.00mV～2000mV 
   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字 
3.4 數(shù)控恒流源 
    (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A 
   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字 
3.5 四探針探頭（選配其一或加配全部） 
    (1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào) 
   (2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào) 
3.6. 電源 
    輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W 
3.7.外形尺寸： 
    主   機  220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高） 
   凈   重：≤2.5kg

產(chǎn)品名稱：多功能 產(chǎn)品型號： ST2258C

多功能 型號： ST2258C

概述

      ST2258C型多功能是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。 
      ST2258C型多功能成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。 
主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動轉(zhuǎn)換量程；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀特贈設(shè)測試結(jié)果分類功能，大分類10類。 
      探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。配探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。   
      測試臺選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺，也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》   
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點。   
儀器于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。

 基本技術(shù)參數(shù)

1. 測量范圍、分辨率（括號內(nèi)為可向下拓展1個數(shù)量級） 
    電    阻：10.0×10^-6 ～ 200.0×10³  Ω,    分辨率1.0×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω 
               （1.0×10^-6 ～ 20.00×10³  Ω,    分辨率0.1×10-⁶ ～ 0.01×10³ Ω） 
    電 阻 率：10.0×10^-6 ～ 200.0×10³ Ω-cm   分辨率1.0×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω-cm 
               （1.0×10^-6 ～ 20.00×10³ Ω-cm  分辨率0.1×10^-6 ～ 0.01×10³ Ω-cm） 
    方塊電阻：50.0×10^-6 ～ 1.0×10⁶ Ω/□    分辨率5.0×10^-6 ～ 0.5×10³  Ω/□  
               （5.0×10^-6 ～ 100.0×10³ Ω/□  分辨率0.5×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω/□）   
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定) 
    直    徑： SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限. 
     長(高)度：  測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
     測量方位:  軸向、徑向均可 
3. 量程劃分及誤差等級

4.工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W 
5.外形尺寸： 245mm（長）×220 mm（寬）×95mm（高）  
   凈   重：≤1.5～2.0kg

產(chǎn)品名稱：智能渦街流量計/渦街流量計 產(chǎn)品型號：TC-HC-LU

智能渦街流量計/渦街流量計 型號：TC-HC-LU 
產(chǎn)品特點： 
該產(chǎn)品主要用于工業(yè)管道介質(zhì)流體的流量測量,如氣體、液體、蒸氣等多種介質(zhì)。其特點是壓力損失小,量程范圍大,精度高,在測量工況體積流量時幾乎不受流體密度、壓力、溫度、粘度等參數(shù)的影響。 
應(yīng)用    
     TC-HC-LU系列智能渦街流量計主要用于工業(yè)管道介質(zhì)流體的流量測量,如氣體、液體、蒸氣等多種介質(zhì)。其特點是壓力損失小,量程范圍大,精度高,在測量工況體積流量時幾乎不受流體密度、壓力、溫度、粘度等參數(shù)的影響。無可動機械零件，因此可靠性高,維護量小。儀表參數(shù)能長期穩(wěn)定。本儀表采用壓電應(yīng)力式傳感器,可靠性高,可在-20℃～+250℃的工作溫度范圍內(nèi)工作。有模擬標準信號,也有數(shù)字脈沖信號輸出,容易與計算機等數(shù)字系統(tǒng)配套使用,是一種比較良好、理想的流量儀表。 
  
※原理 

  
在流體中設(shè)置三角柱型旋渦發(fā)生體，則從旋渦發(fā)生體兩側(cè)交替地產(chǎn)生有規(guī)則的旋渦，這種旋渦稱為卡門旋渦，如右圖所示，旋渦列在旋渦發(fā)生體下游非對稱地排列。 
　　設(shè)旋渦的發(fā)生頻率為f，被測介質(zhì)平均流速為 ，旋渦發(fā)生體迎流面寬度為d，表體通徑為D，即可得到以下關(guān)系式： 
　f=SrU1/d=SrU/md　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　(1) 
式中　　U1--旋渦發(fā)生體兩側(cè)平均流速，m/s； 
　　　　Sr--斯特勞哈爾數(shù)； 
　　　　m--旋渦發(fā)生體兩側(cè)弓形面積與管道橫截面面積之比 
　　　　　　　　 
◆測量介質(zhì)： 氣體、液體、蒸氣 
◆口徑規(guī)格 法蘭卡裝式口徑選擇 25,32,50,80,100 
◆法蘭連接式口徑選擇 100,150,200 
◆流量測量范圍 正常測量流速范圍 雷諾數(shù)1.5×104～4×106；氣體5～50m/s;      液體0.5～7m/s 
 正常測量流量范圍 液體、氣體流量測量范圍見表2；              蒸氣流量范圍見表3 
◆測量精度 1.0級  1.5級 
◆被測介質(zhì)溫度:常溫–25℃～100℃ 
◆高溫–25℃～150℃  -25℃～250℃ 
◆輸出信號 脈沖電壓輸出信號 高電平8～10V   低電平0.7～1.3V 
◆脈沖占空比約50%,傳輸距離為100m 
◆脈沖電流遠傳信號 4～20 mA,傳輸距離為1000m 
◆儀表使用環(huán)境 溫度:-25℃～+55℃ 濕度:5～90%    RH50℃ 
◆材質(zhì) 不銹鋼,鋁合金 
◆電源 DC24V或鋰電池3.6V 
◆防爆等級 本安型iaIIbT3-T6 
   防護等級 IP65

產(chǎn)品名稱：自動藥物凝點儀 藥物凝點測定儀 產(chǎn)品型號：YN4

自動藥物凝點儀 藥物凝點測定儀 型號：YN4

自動藥物凝點儀按2010版《中國藥典》附錄VI D 凝點測定法設(shè)計制造，測定藥物由液體凝結(jié)為固體時候，在短時間內(nèi)停留不變的高溫度。某些藥品具有一定的凝點、純度變更,凝點亦隨之改變。測定凝點可以區(qū)別或檢查藥品的純雜程度。 
    自動藥物凝點儀采用混體信號ISP FLASH微控制器為核心，整過測定過程除樣品加注外自動進行。真彩觸摸屏，使操作更加方便、清晰、直觀。 

自動藥物凝點儀主要技術(shù)參數(shù)： 
控制方式：浴體溫度、試樣溫度、試樣攪拌、結(jié)果采集、結(jié)果打印全部采用微電腦全自動控制 
標準：2010版《中國藥典》附錄VI D 凝點測定法 
控溫范圍                 -20～ +95℃ 
控溫方式             微電腦控制 
控溫精度                      ±0.1℃ 
加熱方式                      不銹鋼電熱管加熱 
制冷方式                      進口壓縮機制冷(外接循環(huán)冷浴) 
觀察方式                      控制程序自動判斷 
工作方式                      雙孔 
試樣攪拌方式                  自動機械攪拌　 
制冷控制                      進口磁力泵 
加熱功率                      400W  
制冷功率                      1200W 
結(jié)果處理                      微型打印機自動打印